掃描穿遂維氏硬度計(STM:Scanning Tunneling Microscopy)
使用矽晶圓或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端,當納米尖端由“金屬固體”表面掃過時, 尖端接觸“金屬”表面會導電,利用導電的大小來控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動,可以量測“金屬固體”(良導體)表面。
將尖端上下移動情形記錄下來,并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對應的三維圖形。
掃描穿遂維氏硬度計(STM)的解析度與納米尖端的尺寸有關,可以用來觀察大約1nm(納米)的結構,因此可以看到由電腦模擬的原子影像。
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