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光學維氏硬度計上的CCD或CMOS圖像傳感器的全自動精密二極管陣列所產生的捕捉圖像的效率是取決于多種因素，從物鏡的數值孔徑，并決議，電子圖像傳感器的全自動精密二極管陣列大小，寬高比視頻耦合器放大倍率，光敏陣列內的個別元素的尺寸。

終的光學分辨率的CCD是一種全自動精密二極管和其規模相對預計到陣列表面的維氏硬度計鏡頭系統圖像的功能。目前可用的CCD陣列，大小不等，從幾百到成千上萬的像素?，F代陣列用于科學調查的設備中使用的尺寸范圍從1000×1000 5000×5000傳感器元件。在消費和科學級CCD制造的趨勢是傳感器的尺寸不斷下降，數碼相機為4×4微米是目前可用的小型全自動精密二極管。

在衍射極限的光學儀器，如維氏硬度計，阿貝極限平均可見光波長（550納米）的光學分辨率為0.20微米，使用時有一個1.4的數值孔徑的物鏡。在這種情況下，傳感器的尺寸為10平方微米，將大到足以讓匹配的光學和電子的決議，以7×7微米傳感器尺寸首選。雖然在CCD圖像傳感器的全自動精密二極管，提高空間分辨率，也限制了設備的動態范圍。