場發射掃描式電子數顯洛氏硬度計(FEGSEM:Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy)
使用六硼化鑭(LaB6)或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端來發射電子束(場發射),
納米尖端可以使電子束的直徑縮小到10nm(納米)左右,
其原理與掃描式電子數顯洛氏硬度計(SEM)相同,如圖4-54(d)所示為場發射掃描式電子數顯洛氏硬度計(FEGSEM)照片, 場發射掃描式電子數顯洛氏硬度計(FESEM)的解析度更高,可以用來觀察大約10nm(納米)的結構,但是只能觀察物體表面的高低起伏, 所以表面平整的物體無法使用。
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