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原子力硬度計可以量測「任何固體」(良導體、半導體、非導體)表面

使用硅晶圓或奈米碳管(CNT)製作成針尖小于100nm(奈米)的奈米尖端，當奈米尖端由「任何固體」表面掃過時，尖端接觸「任何固體」表面都會產生作用力(稱為「凡得瓦力」)，利用作用力的大小來控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動，如圖4-56(a)所示，可以量測「任何固體」(良導體、半導體、非導體)表面。將尖端上下移動情形記錄下來，并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對應的三維圖形，如圖4-56(b)與(c)所示。原子力硬度計(AFM)的解析度與奈米尖端的尺寸有關，可以用來觀察大約1nm(奈米)的結構,工具硬度計，因此可以看到由電腦模擬的原子影像。

共焦的激光掃描硬度計(CLSM)是在生物科學找到寬應用的相對地新的輕的微小成像技術。 CLSM的標本即主要值對生物學家的是其能力通過三維，一個整個電池或者組織部分導致光學部分-那，對一個好近似值，只包含從一個焦平面的信息。 條款包括共焦的激光掃描硬度計的原則和應用。