上海市高新技術企業 高新技術成果轉化項目 上海市計量制造許可單位 CQC ISO9001:2008 質量管理體系 上海硬度計技術-低價質高,造型精美,功能出色的優質硬度計制造商
場發射掃描式電子硬度計(FEGSEM:Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy)
使用六硼化鑭(LaB6)或納米碳管(CNT)制作成針尖小于100nm(納米)的納米尖端來發射電子束(場發射),
納米尖端可以使電子束的直徑縮小到10nm(納米)左右,
其原理與掃描式電子硬度計(SEM)相同,如圖4-54(d)所示為場發射掃描式電子硬度計(FEGSEM)照片,場發射掃描式電子硬度計(FESEM)的解析度更高,可以用來觀察大約10nm(納米)的結構,但是只能觀察物體表面的高低起伏,所以表面平整的物體無法使用。
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