上海市高新技術企業 高新技術成果轉化項目 上海市計量制造許可單位 CQC ISO9001:2008 質量管理體系 上海硬度計技術-低價質高,造型精美,功能出色的優質硬度計制造商
實驗室用的材料檢測光學硬度計都配有顯微成像裝置
采用光學放大是檢驗半導體材料和器件的主要方法之一。它包括科研金相硬度計、低倍立體多功能硬度計以及低倍和高倍三目非立體偏光硬度計.
此外,多功能硬度計中各種附屬裝置如干涉儀、相襯和干涉襯度也是
很有用的.鑒于大多數半導體對可見光不透明,
偏振光研究(在礦物研究中廣泛使用)通常只有采用紅外轉換器代替常規的目鏡時才能進行.
為了儲存各種光學檢驗的結果,常規地使用低倍和高倍拍攝技術.大多數實驗室用的金相硬度計都配有顯微成像裝置.
若需要更高的放大倍數,尤其是要同時增加景深時,可使用掃描電子硬度計.
由于它們的價格、復雜性和規模,妨礙了它們象光學硬度計那樣廣泛地應用.
但是,它們被引進半導體工業后,對微電路相互連接系統的了解已經產生了非常大的影響.
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